VISUS系列研发型IC外观检测机台
针对芯片工艺开发过程中的芯片外观量测和检测需求，我们为研发人员提供一款高解析度3D和2D外观量测与检测机台，帮助客户及时检测芯片工艺问题，优化工艺过程； 机台可以对Wafer level或Panel Level做全局检测或多点抽样检测；
研发型AOI
屏幕快照2019-06-28上午11.58.49
备案/许可证编号为：沪ICP备2023020275号
